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  ドイツのSENSOLYTICS社の走査型電気化学顕微鏡(Scanning 
          electro-chemical microscopy, SECM))を紹介します。 
 SECMの基本的な考え方は、サンプル表面の近傍に微小電極が近接し、スキャンされます。試料表面の局所的な電気化学的な「活性;を画像化します。 
          Sensolytics社は走査型電気化学顕微鏡システムを開発・製造しています。サンプルの高解像度画像を実現するために自動チルト制御とShearForceディスタンスコントロールのようなユニークな機能を提供します。
  
 
 
           
            | ベースSECM・ベースSECMの構成は高品質ステッピングモーター制御XYZ測位システムを用いて、25x25x25 mmスキャン範囲、 20nm分解能
 ・初心者キットに2本Pt微小電極(25μm and 10 μm),、参照電極、対極とシンプルテスト用サンプル
 Sensolytics 
                Base-SECM The starting point for all SECM experiments: a complete scanning 
                electrochemical microscope, including:
 ・A high quality steppermotor-controlled xyz-positioning system: 
                25x25x25 mm range at 20 nm resolution (calc.)
 ・Beginners kit consisting of two Pt-microelectrodes (25μm and 
                10 μm), reference- and counterelectrode and a simple test sample
 ・Full 
                system control via an industrial PC, including TFT-screen, mouse 
                and keyboad
 ・This system is directed primarily at scanning rather flat surfaces 
                with electrode diameters in the range of 10 to 100 μm. It can 
                be extended at any time by options like Option High-Res for better 
                resolution, or Option Shearforce for current-independant distance 
                control.
 
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            | オプション 
                High-Res: 分解能向上するオプション、piezoelectric positioning システムより 100x100x100μmスキャン範囲、3nm分解能
 
 Option ´High-Res´
 To increase the imaging quality of the Sensolytics Base-SECM, 
                the option 'High-Res' provides a piezoelectric positioning system.
 It offers a 3 nm resolution with a scan range of 100x100x100 μm 
                and allows to include a three-point tilt compensation mechanism
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            | オプション 
                Shear-Force:  
                粗いサンプル(凸凹)に対して、Sophisticated feedback mechanismよりチップとサンプルは一定の距離を保ち、スキャンする機能です。
  To precisely 
                separate topographic and electrochemical information, this option 
                provides the ability to control the tip-to-sample separation. 
                The tip is held in a constant distance of 50 to 300 nm above the 
                sample surface by means of a sophisticated feedback mechanism. 
                Suitable for structure dimensions < 1 μm, depends on Option 
                High-Res
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 参考文献 英文カタログ(PDF)  
          
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